Kanta objektif NUV ialah kanta yang digunakan terutamanya untuk pemerhatian cahaya dekat ultraungu.
- Kanta objektif NUV digunakan secara meluas dalam pemeriksaan semikonduktor. Ia membantu dalam mengesan kecacatan mikroskopik pada permukaan wafer semikonduktor semasa proses pembuatan dengan menggunakan cahaya ultraungu hampir untuk mencapai pengimejan resolusi tinggi.
- Dalam bidang mikroskopi pendarfluor, ia memainkan peranan penting. Ia membolehkan pengujaan dan pengesanan fluorofor yang mempunyai spektrum penyerapan dan pancaran khusus dalam kawasan hampir ultraungu, membolehkan kajian terperinci terhadap sampel biologi seperti sel dan tisu.
- Kanta objektif NUV juga digunakan dalam sains bahan. Ia boleh digunakan untuk menganalisis sifat optik pelbagai bahan dalam julat hampir ultraungu, memberikan maklumat berharga tentang komposisi, struktur dan sebarang potensi kecacatan atau kekotoran bahan tersebut.
- Dalam sains forensik, kanta ini digunakan untuk pemeriksaan bukti. Ia boleh membantu dalam menganalisis bahan surih, seperti gentian atau dakwat, melalui ciri pendarfluornya di bawah cahaya hampir ultraungu, membantu dalam siasatan jenayah.
- Kanta ini juga digunakan dalam litografi optik. Ia membantu dalam pencorakan struktur mikro dan nano yang tepat pada substrat dengan memfokuskan cahaya ultraungu dekat, yang penting untuk penghasilan litar bersepadu dan peranti mikrofabrikasi lain.